A ZEISS mostantól minden pásztázó elektronmikroszkópjához (SEM) – beleértve a fókuszált ionnyalábos pásztázó elektronmikroszkópokat (FIB-SEM) is – elérhetővé teszi rendkívül rugalmas és nagy teljesítményű ZEN core szoftverplatformját. A ZEN mozaikszó a „ZEISS Efficient Navigation” rövidítése; a szoftver célja, hogy a mikroszkópos vizsgálatok során még több, lényegesebb információt nyerhessenek ki a felhasználók. Az ipari és akadémiai…